• XCH12000X射線面密度測量儀

    設備用途:用于對鋰電池正極涂布的面密度(單位面積的重量)進行非接觸式在線檢測。

     

    設備用途:用于對鋰電池正極涂布的面密度(單位面積的重量)進行非接觸式在線檢測。
    測量原理:X射線屬于電磁波,X射線穿透鋰電池正極涂布極片時,發生強度衰減,其衰減符合指數規律,與涂布面密度相關,依據探測射線的衰減實現涂布面密度的測量。鈷酸鋰,錳酸鋰,磷酸鐵鋰,三元等正極材料等效原子序數高,與基材鋁箔相比,對于X射線的吸收系數比較大, 所以基材的正常波動對測量結果影響很小。
    設備特點:

    光斑?。浩涔獍呶锢沓叽?/span>6mm*6mm、6mm*9mm、6mm*12mm等多種規格,具有很高的空間分辨能力,極片抖動對測量無影響。

    實現優化測量:可根據正極涂布的具體規格,控制調節X光機的管電壓、管電流等參數,構造優化的測量條件。

    獨特的長壽命設計:X射線發生器采用上電軟啟動、雙24ADC雙獨立閉環控制、油侵風冷散熱等技術,保護核心部件X光管10年不老化,探測器采用精密焊接密封工藝,保證核心電離室30年不漏氣。

    高精度O型掃描架:使用高慣性矩鋼結構厚壁管梁整體掃描O型框架,掃描基面采用數控中心一次定位加工,位置精度高,整體穩定性強,已取得專利。

    不斷帶標定裝置:測量儀安裝有標定裝置,不必斷帶,十分方便用戶對測量儀進行在線標定,已取得專利。

    豁免級防護:距離設備表面10cm處,劑量率不超過1μSv/h。

    閉環控制功能:具備與涂布機聯機的功能,可實現涂布質量閉環控制。

    多架同位測量功能:具備多架測量儀聯機測量功能,沿同一軌跡跟蹤測量,得到凈涂布面密度。

    技術指標:

    面密度測量精度():±0.1%;

    重復測量精度():±0.05%;

    測量范圍:0~1000g/m2;

    X射線發生器陽極電壓:5~20kV;

    系統響應時間(硬件):小于1ms,測量反應時間可編程控制;

    掃描速度:0~0.5m/s;

    掃描同步精度:0.04mm;

    光電編碼器定位精度:0.02mm;

    平均無故障時間:X射線發生器50000h;X射線探測器80000h。

    輻射防護:距離設備表面10cm處,劑量率不超過1μSv/h,達到豁免等級,無需辦理輻射安全許可證。

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